원자 분광법 개요

광원, 원자화 장치, 단색화기 및 검출기로 구성된 기본 원자 흡수 분광기의 개략도.

원자 분광법은 시료의 전자기 복사 또는 질량 스펙트럼을 이용하여 원소 구성을 분석합니다. 원자가 흡수하거나 방출하는 에너지의 파장은 각 원소마다 고유한 특성을 가지며, 이를 통해 원소를 식별하고 정량할 수 있습니다.

원자 분광법을 기반으로 한 분석 기법은 환경 화학, 지질학 및 토양 과학, 광업 및 야금학, 식품 과학, 의학 분야에서 널리 사용되고 있습니다.

주요 카테고리

분석화학 표준과 관련된 물품 모음입니다. 여기에는 노란색 라벨이 붙은 병과 여러 문서가 포함되어 있습니다. 문서 중 하나는 인증서입니다. 또 다른 문서에는 인쇄된 그래프와 텍스트가 나와 있습니다. 배경은 흰색이며 특별한 특징이 없습니다.

ICP 및 AAS 표준

당사의 인증된 AAS 및 ICP 표준물을 활용하여 무기 미량 원소 분석의 정확도를 높여보세요. NIST 추적 가능한 용액도 제공됩니다.

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다양한 종류의 알약과 캡슐 모음입니다. 이 약들은 분홍색, 노란색, 흰색, 파란색, 빨간색 등 다양한 모양과 색상을 띠고 있습니다. 일부 캡슐은 투명하거나 불투명하며, 양쪽 끝의 색상이 서로 다릅니다.

무기 원소 불순물 혼합 표준물질

제약 분석 분야에서 ICP 또는 AAS를 이용한 의약품 시험을 수행할 때, ICHQ3D 지침에 부합하는 당사의 무기 원소 불순물 혼합물 참고 자료 모음을 살펴보시기 바랍니다.

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노란색 배경 앞에 놓인 두 개의 실험실용 화학 용기. 왼쪽 용기는 더 크며, 빨간색 마개와 위험 기호가 표시된 라벨이 붙어 있다. 오른쪽의 더 작은 용기는 검은색 마개와 흰색 및 녹색 라벨이 붙어 있다.

산

폭넓은 산 제품군을 만나보세요: 분석용 Supelco®, 실험실용 Sigma-Aldrich®, 바이오제약용 SAFC®. 다양한 요구 사항에 맞춘 맞춤형 솔루션을 제공합니다.

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Milli-Q® 벤치탑 실험실용 정수 시스템

Milli-Q® 시스템은 실험실 연구 요구 사항, 지속가능성 목표 및 기타 주요 요건을 충족하도록 설계된 혁신적인 정수 기술을 제공합니다.

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원자 흡수 분광법 (AAS)

원자 흡수 분광법(AAS)은 원소가 흡수하는 자외선/가시광선 에너지의 양을 측정하는 원리로 작동합니다. 흡수되는 빛의 파장은 해당 원소의 전자를 기저 상태에서 더 높은 에너지 준위로 이동시키는 데 필요한 에너지에 해당합니다. 이 여기 과정에서 흡수되는 에너지의 양은 시료 내 해당 원소의 농도에 비례합니다.

화염 원자 흡수 분광법(FAA)

화염 원자 흡수 분광법(FAA)은 화염을 이용하여 액체 시료를 기화 및 열 분무하는 방식입니다. 이 기법에서는 시료 용액을 흡입하여 미세한 에어로졸 형태로 챔버 내로 분사하고, 여기서 연료 및 산화제 가스와 혼합합니다. 생성된 혼합물은 버너 헤드로 이동하여 연소 및 시료 분무가 이루어집니다.

흑연로 원자 흡수 분광법(GFAA)

흑연로 원자 흡수 분광법(GFAA)은 원자 흡수를 측정하는 데 있어 가장 진보되고 감도가 높은 기법입니다. 흑연로 분무기를 사용하면 화염 원자화에 비해 원자들이 광학 경로 내에 약간 더 오래 머무르게 되어, 검출 한계가 낮아지고 감도가 10억 분의 1(ppb) 수준까지 향상됩니다.

유도 결합 플라즈마 발광 분광법(ICP-OES)

유도 결합 플라즈마 발광 분광법(ICP-OES)은 원소의 전자가 여기 상태에서 안정된 기저 상태로 돌아갈 때 방출되는 빛을 측정합니다. 시료는 아르곤 플라즈마로 주입되며, 고온에 의해 원자의 전자가 더 높은 에너지 준위로 여기됩니다. 원소는 전자가 기저 상태로 돌아갈 때 방출되는 빛의 특성 파장을 통해 식별됩니다. 방출되는 빛의 강도는 시료 내 원소의 농도와 관련이 있습니다.

유도 결합 플라즈마 질량 분석법 (ICP-MS)

유도 결합 플라즈마 질량 분석법(ICP-MS)은 1조 분의 1(ppt) 미만의 농도 범위에서 다양한 금속 및 비금속을 매우 민감하게 정량하는 데 사용되는 질량 분석법의 한 종류입니다. ICP-MS는 원소의 질량 대 전하(m/z) 비율에 따라 자기장 내에서 원소를 분리하여 분석합니다.

X선 형광(XRF) 분광법

X선 형광(XRF) 분광법은 시료 내 에너지를 얻은 원자가 방출하는 X선의 파장과 강도를 측정하여 원소 구성을 검출합니다. 이 방법에서는 단파장 X선 빔이 시료에 조사되어 원자의 가장 안쪽 껍질 전자를 떼어내어 빈 자리, 즉 “공석”을 형성합니다. 이로 인해 원자는 전자 배열을 재구성하게 되며, 더 높은 에너지 껍질의 전자가 새로 생성된 빈 자리를 차지하기 위해 이동하면서 이 과정에서 특유의 X선을 방출합니다. 형광 과정에서 원자가 방출하는 X선을 검출하여 시료의 식별 및 정량 분석에 활용합니다.